公开算法的可复现实验 · 过采样、带宽受限、三次非线性、AWGN、采样抖动与训练辅助相位获取
横轴为两个 UI；多条轨迹叠加。眼闭合来自带宽、非线性、噪声与抖动的共同作用。
扫描采样相位，选择训练段归一化均方误差最低的位置。这是 CDR 的可解释前身，不是完整 PLL/CDR。
同一组波形、同一训练段：FFE 抵消线性 ISI；DFE 利用已判决的历史符号继续消除后游 ISI，同时引入真实芯片中的反馈时序与错误传播代价。
不是 FEC 解码结果；虚线只表示两条示例 pre-FEC 决策门槛。零观测错误绘制在 10⁻⁶ 图形下限。
四个 PAM4 电平应尽量分开；实际芯片还要同时承受 ADC 量化、时钟抖动、温漂与 PVT 偏差。